北京怎么建设网站,ueditor转wordpress,手机php网站开发工具,鼠标网站模板大家在使用MCU内部ADC进行信号采样一个静态电压时#xff0c;可能在IO口上看到这样的波形。这个时候大家一般会认识是信号源有问题#xff0c;但仔细观察会发现这个毛刺的频率是和ADC触发频率一样的。 那么为什么MCU在ADC采样时IO口会出现毛刺呢#xff1f;这个毛刺对结果有… 大家在使用MCU内部ADC进行信号采样一个静态电压时可能在IO口上看到这样的波形。这个时候大家一般会认识是信号源有问题但仔细观察会发现这个毛刺的频率是和ADC触发频率一样的。 那么为什么MCU在ADC采样时IO口会出现毛刺呢这个毛刺对结果有什么影响吗让我们一起研究下。首先我们先看下GD32 MCU的ADC内部采样电路的原理示意图仅举例这个电路很简单MCU采样保持电路可以等效为一个开关、一个采样电阻和采样电容当然了后面还有逐次逼近式的转换电路。 所以当开关闭合时外部的信号会通过开关经过采样电阻对采样电容进行充电或放电此时会导致外部电压瞬间变化这个过程内部电压和外部电压的变化可以等效为如下图所示。 从波形图里可以看到是一个向下的毛刺当然如果ADC在扫描模式采样多个信号时也可能出现电容对外放电则会出现向上的毛刺比如下图这个波形。 这个毛刺对结果有什么影响吗这个需要根据这个ADC通道所配置的采样保持时间来判断了。我们可以用程序配置的采样保持周期和ADC时钟计算出ADC采样开启的时间。如果从毛刺产生时刻开始经过采样开启时间后电压已经恢复平稳那么此时这个平稳的电压和ADC采样电容上的电压一致接下来的ADC转换也就能得到正确的结果。如果采样时间结束时信号还在毛刺阶段则采样结果就会出现偏大或偏小。 那么如何从软硬件方面优化MCU的ADC性能发散思维一下。
